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제품 상세 정보:
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| 주파수 범위: | 10Hz~15MHz | 조정 범위를 얻습니다: | 0~90dB, 최소 단계 0.5dB |
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| 채널 수: | 64채널 | 디지털 필터링: | 1~100 |
| 전면 게인: | 10~35dB | 고역 필터링: | 0~500Hz |
| 저역 통과 필터링: | 10Hz~10KHz | 진폭 및 위상 측정: | 자동/매뉴얼 |
| 강조하다: | 다중 주파수 와전류 시험 장비,항공우주 비파괴 검사 장비,석유화학 와전류 테스터 |
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HEF-2501 항공우주 및 석유화학용 다중 주파수 배열 와전류 시험 장비
HEF-2501 배열 와전류 검출기는 배열 다중 주파수 와전류 검출기입니다. 금속 재료의 결함을 실시간으로 효과적으로 검출하고, 합금 종류, 열처리 상태, 두께 변화 등을 구별할 수 있습니다. 여러 검출 방법을 결합하여 얻은 시험 결과는 검사관의 종합적인 데이터 분석 및 상호 검증을 용이하게 하여 보다 객관적이고 진실된 평가를 얻을 수 있습니다. 특히 항공, 우주, 전력, 원자력 공학, 야금, 조선, 석유화학, 자동차 등 분야의 서비스 전 및 서비스 중 비파괴 검사에 적용 가능합니다.
I. 기능 설명
• 64채널 배열 와전류 시험
• 무지향성 용접부 검사
• 고유한 균열 깊이 검출 기능;
• 임피던스 평면도, 시간 기준 스캔도 표시, 시간 기준 중첩 표시, 배열 와전류 스캔 II (B/C), 및 3차원 영상 표시 기능;
• 고해상도 및 고감도;
• 간편한 조작, 중국어 및 영어 조작 인터페이스 제공 (선택 사항);
• C-스캔 보기의 데이터 수집은 결함을 신속하고 효과적으로 검출하고 위치를 파악할 수 있습니다.
• 파이프 벽 두께 감소 측정, 표면 결함 검출 및 깊이 측정, 금속 재료의 표면 코팅 및 도금층 두께 측정, 다양한 금속 재료 및 경도 분류 지원.
• 32개의 종합 처리 (혼합) 장치를 갖추고 있어 여러 그룹의 간섭 신호를 동시에 분리하거나 억제할 수 있습니다;
• 다중 필터링 방법
• 다양한 데이터 저장 방법
• 다중 주파수 검출 구성 분석 기능 보유
• 검출 파라미터 및 데이터를 저장하며 PDF, EXCEL, WORD 등으로 보고서를 내보낼 수 있습니다
• 전체 검출 과정의 신호 파형을 저장/재생할 수 있습니다
• 내장 리튬 배터리가 장착되어 있으며 6시간 이상 연속 작업 가능
二,성능 지수
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항목 |
성능 지수 |
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링크 수 |
2개 |
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채널 수 |
64 채널 |
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프로브 인터페이스 유형 |
LEMO 인터페이스 |
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주파수 |
4 |
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주파수 범위 |
10Hz~15MHz |
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게인 조정 범위 |
0~90dB,최소 단계 0.5 dB |
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임피던스 평면 |
32개 |
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자동 혼합 장치 |
32개 |
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고역 통과 필터링 |
0~500Hz |
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저역 통과 필터링 |
10Hz~10KHz |
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디지털 필터링 |
1~100 |
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전단 게인 |
10~35dB |
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구동 |
레벨 8 |
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진폭 및 위상 측정 |
자동/수동 |
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레이아웃 표시 |
임피던스 평면도, 시간 기준 스캔 곡선 표시, A-스캔 표시 |
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경보 모드 |
반위상 경보/위상 경보/박스 경보 |
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경보 출력 신호 |
트랜지스터 OC 게이트 출력 |
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균형 모드 |
디지털 전자 균형 |
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필터링 방법 |
고역 통과, 저역 통과 및 디지털 필터링의 세 가지 유형 |
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표시 모드 |
점/선/페이딩으로 최대 균열 깊이를 표시하고 실시간으로 균열 깊이를 표시할 수 있습니다 |
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프로브 보정 |
검출 전 기본 주파수 신호의 파형을 눈금 표시와 함께 표시하는 기능이 있습니다. 센서 자체 진단 기능이 있습니다 |
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양방향 게인 비율(Y/X) |
0.1 ~ 10/0.1 ~ 10, 여기서 X와 Y는 별도로 설정할 수 있습니다 |
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보정 곡선 |
결함 깊이 (두께) - 진폭 /Y 진폭/위상 곡선 보정 기능 |
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확장 기능 |
와전류 검출 신호 재생, 분석 및 저장 |
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데이터 분석 |
검사 정보, 결함 신호, 위치, 날짜, 인력 및 기타 검사 파라미터를 포함한 검사 보고서를 자동으로 생성합니다 |
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데이터 기록 및 관리 |
1. 시스템은 국부 결함 신호의 임피던스 시간 기준도, 결함 신호의 파형 파일, 테스트 중 해당 파라미터 구성을 저장할 수 있습니다. 2. 시스템은 각 검출 파형의 데이터를 실시간으로 저장 및 재생하고 저장된 신호 파형을 분석할 수 있습니다. 3. 시스템에는 메모리 카드가 장착되어 있어 현장 검출 데이터를 실험실로 가져와 분석할 수 있어 보관이 용이합니다. |
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인간-컴퓨터 상호 작용 |
시스템은 수동으로 신호를 분리 및 분류하여 다양한 유형의 신호의 진폭 및 위상과 같은 특성 매개변수를 얻을 수 있습니다. 2. 시스템은 다양한 신호의 위상 오프셋을 수동으로 수정할 수 있습니다. 3. 시스템은 표준 샘플 신호의 진폭을 보정하는 기능을 가지고 있습니다. 4. 시스템은 데이터 수집 기간을 설정할 수 있습니다. |
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크기, 무게 |
292×214×69mm； 2.7 kg |
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작동 온도 범위 |
-20℃ ~ +55℃ |
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외부 전원 공급 장치 |
어댑터: DC19V, 충전식 리튬 배터리 (14.8V 5.7AH) |
三,구성 목록
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SN. |
이름 |
모델 사양 |
수량 |
단위 |
비고 |
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1 |
배열 와전류 검출기 |
HEF-2501 |
1 |
개 |
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2 |
노트북 |
D e l l |
1 |
개 |
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3 |
32채널 배열 프로브 |
맞춤 제작 |
1 |
개 |
무지향성 검출 프로브 |
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4 |
펜형 프로브 |
EPB2.JO.20 |
1 |
개 |
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5 |
곡선 펜형 프로브 |
EPB2W.JO.20 |
1 |
개 |
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6 |
엣지 프로브 |
EPD1.CO.10 |
1 |
개 |
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7 |
배열 테스트 블록 |
스테인리스 스틸 |
1 |
개 |
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8 |
테스트 블록 비교 |
강철 |
1 |
개 |
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9 |
배열 와전류 어댑터 와이어 |
LEMO16 코어 -LEMO19 코어 |
1 |
개 |
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10 |
통신선 |
네트워크 케이블 |
1 |
개 |
Super Category 5 |
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11 |
전원 어댑터 |
DC-19V |
1 |
개 |
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12 |
기기 상자 |
|
1 |
개 |
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13 |
제품 품질 인증서 |
|
1 |
개 |
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14 |
품질 보증서 |
|
1 |
개 |
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15 |
품질 피드백 양식 |
|
1 |
개 |
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16 |
기기 작동 설명서 |
|
1 |
개 |
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17 |
시스템 소프트웨어 백업 |
영어/USB 플래시 드라이브 |
1 |
개 |
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담당자: Ms. Shifen Yuan
전화 번호: 8610 82921131,8618610328618
팩스: 86-10-82916893
Korean
