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제품 상세 정보:
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| 제품명: | 평면 패널 | 유효면적: | 304x254mm |
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| 센서 + 발광재료: | a-Si+Gos / CsI:TI | 픽셀 크기: | 100μm |
| 강조하다: | 무선 평판 DR 시스템,디지털 방사선 촬영 X선 검출기,비파괴 검사용 X선 결함 검출기 |
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무선 평면 패널 DR 시스템 디지털 방사선용 평면 패널 탐지기 X선 결함 탐지기
기술 사양
| 센서 + 발광 물질 | a-Si+Gos / CsI:TI |
| 효과적 면적 | 304 x 254mm |
| 결의 | 3072 x 2560 |
| 픽셀 크기 | 100μm |
| 취득 시간 | 유선: 1s; 무선: 3s |
| 공간 해상도 | 5LP/mm |
| 노출 제어 모드 | 부드러운 샘플링 |
| 에너지 범위 | 40~370kV |
| 구조적 차원 | 333.6×322×18.0mm |
| 최소 마진 | ≤5mm |
| 무게 | 3.5kg |
| 온도 | -10~35°C (운전);-10~50°C (보유) |
| 방수 및 먼지 방지 | IP54 (IP66 업그레이드 가능) |
| 제품 사용 | 산업용 파이프 라인 용접, 주사, 압력 용기 등 |
크기
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담당자: Ms. Shifen Yuan
전화 번호: 8610 82921131,8618610328618
팩스: 86-10-82916893